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游離二氧化硅和二氧化硅的區別_百度知道

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用回顧性流行(xing)(xing)病(bing)學方法對不同地(di)區(qu)不同煤(mei)質(zhi)的6個煤(mei)礦(kuang)的塵肺患(huan)病(bing)率進行(xing)(xing)調查(cha)分(fen)析,對不同煤(mei)質(zhi)煤(mei)塵中游(you)離二(er)氧化硅(gui)的含量與相(xiang)應塵肺患(huan)病(bing)率進行(xing)(xing)比較,探索兩者之間是否存(cun)在(zai)相(xiang)關。

粉塵中游離二氧化硅檢測方法_百度文庫

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不同煤種中游離二氧化硅的含量分析-《中國職業安全健康協會2009

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游離二氧化硅矽肺與肺癌-《工業衛生與職業病》1988年05期

二氧化硅(gui)(gui)又稱硅(gui)(gui)石(化學式為510公,在自(zi)然(ran)界分布很(hen)廣(guang),典型代表有(you)石英、石英砂等其特點是(shi)粉(fen)塵中游離二氧化硅(gui)(gui)含(han)量較高(gao),粉(fen)塵的分散度(du)也比(bi)較高(gao),即多為呼吸性。

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游離二氧化硅矽肺與肺癌-《工業衛生與職業病》1988年第05期-吾

在(zai)沒有X線衍射儀(yi)和紅外分光光度計的基層單位,焦磷酸質量法(fa)測定粉(fen)塵中游(you)離二(er)氧(yang)化硅含(han)量也是一種(zhong)可靠的方(fang)法(fa)之(zhi)一。該方(fang)法(fa)操作(zuo)繁雜(za),耗時(shi)較長,要求實(shi)驗分析人員比較熟練,。

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主(zhu)要有(you)矽(xi)塵(chen)、煤塵(chen)、鍋爐塵(chen)、石棉塵(chen)、水泥塵(chen)、電焊煙塵(chen)等,其特(te)點(dian)是粉(fen)塵(chen)中(zhong)游離二氧化硅含量較(jiao)高,粉(fen)塵(chen)的(de)分散度也(ye)比較(jiao)高,即多為呼吸性(xing)粉(fen)塵(chen),因此對接塵(chen)人員的(de)危害。

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[圖文]接觸游離二氧化硅粉塵(chen)(chen)造成的脫塵(chen)(chen)后(hou)塵(chen)(chen)肺平(ping)均(jun)接塵(chen)(chen)工(gong)齡(ling)(ling)和發病(bing)年齡(ling)(ling)與非脫塵(chen)(chen)后(hou)塵(chen)(chen)肺的差別(bie),使以往(wang)的接觸時間與接觸濃度乘積累積值作為接觸劑量(liang),在這(zhe)兩類塵(chen)(chen)肺中(zhong)分布不均(jun)。

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游離二氧化硅粉塵劑量指標Da中K值的研究-《衛生研究》1995年S1期-

測定(ding)方法有(you)焦(jiao)磷酸質(zhi)量法和紅外(wai)分光光度計測定(ding)法。呼(hu)吸性粉(fen)塵中游離二氧(yang)化硅含量的測定(ding),(考@試(shi)大)煤礦粉(fen)塵采(cai)用紅外(wai)光譜法,非(fei)煤礦山(shan)粉(fen)塵采(cai)用X射(she)(she)線(xian)衍射(she)(she)法。(1)焦(jiao)磷酸。

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6.在煤炭行業對游(you)離二氧化硅的(de)監測7.衛生檢疫,制藥,食品,環保,公安(an),石油,化工,光(guang)學鍍膜(mo),光(guang)通信,材料科學等諸多(duo)領域(yu)珠寶行業的(de)檢測經(jing)濟的(de)紅外分光(guang)光(guang)度(du)計。

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2.本文介紹(shao)了應用X射(she)線衍(yan)射(she)儀(yi)測(ce)定(ding)礦山呼吸性(xing)粉(fen)塵中游離二氧化硅含量的(de)基本原理、實(shi)驗條件以(yi)及操作(zuo)過程、方法步驟(zou)等。Basicprinciple,experimentcondition,operating。

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本標(biao)準適(shi)用于石(shi)灰巖中游(you)離(li)二氧化(hua)硅(gui)量的(de)測定,也(ye)可用于普通硅(gui)酸鹽(yan)水泥(ni)生料中游(you)離(li)二氧化(hua)硅(gui)量測定。

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國(guo)標(biao)GB574885焦磷酸質量法測(ce)(ce)定(ding)(ding)游離二氧化硅需經一系列(lie)步驟,因而樣品測(ce)(ce)定(ding)(ding)的(de)(de)時(shi)間較長,特別是幾個關鍵點又難以(yi)掌握。但是焦磷酸質量法準確度比較高,仍為(wei)基本的(de)(de)方法。

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2013年(nian)6月21日-因為硅易于與(yu)氧(yang)聯系,自然界中(zhong)沒(mei)有游(you)離態(tai)的(de)硅存在。我們介紹(shao)硅的(de)性質、與(yu)硅膠消光(guang)劑比較,處理過(guo)的(de)二氧(yang)化硅具有不一(yi)樣的(de)粒徑、粒徑散(san)布和孔隙。

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含有(you)碳(tan)(tan)化(hua)硅(gui)原材料(liao)和(he)耐火制品的化(hua)學(xue)分析.第2部分:點火、總碳(tan)(tan)、單體碳(tan)(tan)和(he)碳(tan)(tan)化(hua)硅(gui)、總二氧化(hua)硅(gui)和(he)游(you)離二氧化(hua)硅(gui)及(ji)總硅(gui)和(he)游(you)離硅(gui)減少的測定Chemicalanalysisofsilicon-carbide。

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<篇首;粉(fen)塵中(zhong)游離sio2含(han)量的測定有焦(jiao)磷(lin)酸(suan)質量法(fa)(fa)(fa),X線衍射法(fa)(fa)(fa)和紅外光譜法(fa)(fa)(fa),后(hou)兩種(zhong)方法(fa)(fa)(fa)因儀器昂貴(gui)、操作(zuo)條件要(yao)求(qiu)高等原因,在(zai)基層很少應用,焦(jiao)磷(lin)酸(suan)質量法(fa)(fa)(fa)是(shi)現行使(shi)用的。

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